出版社:冶金工业出版社出版日期:2002-1ISBN:9787502430504作者:刘玉岭等编著页数:311页
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《超大规模集成电路衬底材料性能及加工测试技术工程》介绍了作为超大规模集成电路衬底材料硅的性能、硅单晶衬底的加工工艺以及相关的测试技术。
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