质量可靠性增长与评定方法

出版社:北京航空航天大学出版社
出版日期:1997-12
ISBN:9787810127172
作者:周源泉
页数:354页

作者简介

内容简介
本书以质量可靠性增长及评定为中心,介绍相关的质量可靠性统计方法,其内容包括分布拟合优度检验,
异常值检验,单元(含二项、指数、正态、对数正态、威布尔、极值和Gamma等分布)可靠性、维修性、可用性评
定,结构可靠性评定,环境因子,质量可靠性增长及系统可靠性(含冗余系统可靠性设计)、系统可用性评定。
本书不作数学推导,以介绍模型、方法为主,每个模型附有实例说明,是一本手册性的工具书。这些方法适用
于各类工业产品与系统。
本书可供产品设计师和质量可靠性工程师从事产品质量可靠性设计、增长、评定及验收工作参考。也可
作为理工科高年级大学生、研究生及科研人员的参考书。

书籍目录

目录
第一章 分布的拟合优度检验
§1.1指数及双参数指数分布的拟合优度检验
§1.2Weibull及Gumbel分布的拟合优度检验
§1.3正态及对数正态分布的拟合优度检验
§1.4分布间的鉴别
§1.5拟合优度检验及分布鉴别的数值例
§1.6拟合优度检验的若干通用方法
参考文献
附表1.1W检验统计量W的系数ai的值
附表1.2W检验统计量W的α分位数Wα
附表1.3D检验统计量Y的α分位数Yα・
附表1.4偏度检验统计量bs的p分位数zp
附表1.5峰度检验统计量bk的p分位数z′,
附表1.6统计量分布的分位数
第二章 异常值检验
§2.1指数分布样本异常值的检验
§2.2正态分布样本异常值的检验
§2.3Weibull分布样本异常值的检验
参考文献
附表2.1Tn(n)的临界值Tn(n)(1-α)
附表2.2Tn(1)的临界值Tn(1)(α)
附表2.3Nair检验的临界值
附表2.4Grubbs检验的临界值G1-α(n)
附表2.5极差对样本标准差之比W/s的临界值
附表2.6T(单边)检验的临界值
附表2.7同时检验两个最大或最小的观测值时的临界值
附表2.8Dixon检验的临界值D1-α(n),(单侧)
附表2.9Dixon检验的临界值(双侧)
附表2.10Dixon检验的临界值
附表2.11Irwin检验的临界值I1-a(n)
第三章 产品的可靠性评定
§3.1成败型产品的可靠性评定
§3.2指数型产品的可靠性评定
§3.3完全样本正态型、对数正态型产品的可靠性评定
§3.4截尾样本时,正态型、对数正态型产品的可靠性评定
§3.5威布尔(Weibull)型产品的可靠性评定
§3.6I型极小值分布产品的可靠性评定
§3.7I型极大 值型产品的可靠性评定
§3.8Gamma型产品的可靠性评定
参考文献
附表3.1正态单边容许限系数表
附表3.2正态双边容许限系数表
附表3.3正态截尾样本的辅助估计函数表,λ(h,γ)
附表3.4正态截尾样本时的区间估计系数表(基于BLUE)
附表3.4.1t=(μ-μ)/σ的分位数
附表3.4.2w=σ/σ的分位数
附表3.4.3(tR-μ)/σ的分位数
附表3.5Weibul1截尾样本时的区间估计系数表(基于BLIE)
附表3.5.1分位数
附表3.5.2分位数
第四章 产品的维修性评定
§4.1维修时间服从指数分布时的维修性评定
§4.2维修时间服从正态分布时的维修性评定
§4.3维修时间服从对数正态分布时的维修性评定
§4.4维修时间服从Weibull分布时的维修性评定
§4.5维修时间服从伽马(Gamma)分布时的维修性评定
参考文献
第五章 产品的可用性评定
§5.1失效时间/维修时间均为Gamma分布时,产品的可用度下限
§5.2失效时间/维修时间服从指数/对数正态分布时,产品的可用度下限
参考文献
附表 5.1α值表 (γ=0. 8)
第六章 机械结构可靠性评定与设计
§6.1结构可靠性的区间估计
§6.2变差系数的区间估计
§6.3安全系数的区间估计
参考文献
附表6.1正态分布变差系数的置信上限表
第七章 可靠性增长
§7.1AMSAA-BISE模型
§7.2Duane模型
§7.3CroW的可靠性增长预测模型
§7.4可靠性增长管理模型
§7.5Gompertz模型
§7.6顺序约束阶段可靠性增长模型
§7.7维修性增长
参考文献
附表7.1Laplace检验统计量μ的临界值μ1-α/2
附表7.2Cramer-VonMises统计量C2M的临界值表
附表7.3.1AMSAA-BISE模型定时截尾区间估计系数表
附表7.3.2AMSAA-BISE模型定时截尾随机化区间估计系数表(u=0.5)
附表7.4AMSAA-BISE模型定数截尾区间估计系数表
附表7.5AMSAA-BISE模型预测区间估计系数表
附表7.6相关系数ρ=0时,经验相关系数的临界值表
第八章 环境因子
§8.1指数单元的环境因子
§8.2指数串联系统的环境因子
§8.3成败型单元的环境因子
§8.4对数正态单元的环境因子
§8.5Weibull单元的环境因子
§8.6Weibull过程单元的环境因子
§8.7Gamma单元的环境因子
参考文献
第九章 系统可靠性评定
§9.1串联系统的可靠性评定
§9.2并联系统的可靠性评定
§9.3k/N(G)系统的可靠性评定
§9.4相同指数单元旁联系统的可靠性评定
§9.5和联系统的可靠性评定
§9.6指数单元组成的系统MTBF评定
§9.7冗余系统的可靠性设计
§9.8单元及系统均取得试验数据时,系统的可靠性评定
参考文献
第十章 系统可用性评定
§10.1快照单元的系统可用性下限
§10.2相同指数失效/指数维修单元的系统可用性的精确下限
§10.3不同指数失效/指数维修单元的系统可用性的近似下限
参考文献

内容概要

作者简介
周源泉,1937年生,
江苏宜兴人,1960年毕
业于北京大学地球物理
系,现任中国航天工业
总公司七○二所研究员,
是多所大学的客座教授。
长期来,从事质量,可靠
性的研究应用工作,撰
写了论文110多篇,著作
有:《可靠性评定》(科学
出版社);《可靠性增长》
(科学出版社);《可靠性
基础入门》(中国统计出
版社)等。进行了数十个
可靠性工程项目,为国
家节省了经费一亿多元,
并多次获国防科工委及
航天工业部科技成果奖。


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