透射电子显微学（4卷本）

作者简介

《透射电子显微学:材料科学教材》(4卷本)(影印版)是美国最为流行的教科书之一。它分为4卷：基本概念，衍射理论，成像原理及能谱分析。其中第1卷主要讲解电子显微镜的基本概念，包括衍射基础知识、显微镜的组成部件、仪器构造与功能以及样品制备。第2卷介绍衍射图像、倒易点阵、衍射电子像的标定，以及各种衍射分析方法。第3卷主要是关于成像原理。该卷对材料研究中典型的课题进行系统的介绍。比如晶体缺陷、内应力、相分析等。该卷还着重介绍了高分辨电子显微镜和图像模拟。第4卷讨论各种能谱的分析方法与技术。比如X射线谱、X射线定量定性分析、电子能量损失谱、离子能量损失谱等。在电子显微学研究中最为基本的理论是衍射理论，因而该书利用相当大的篇幅介绍衍射理论以及与其紧密相关的晶体结构，这些知识是材料学专业的重要基础理论之一。

书籍目录

Ⅰ  Basics1  The Transmission Electron Microscope2  Scattering and Diffraction3  Elastic Scattering4  Inelastic Scattering and Beam Damage5  Electron Sources6  Lenses,Apertures,and Resolution7  How to“See”Electrons8  Pumps and Holders9  The Instrument10  Specimen Preparation    Ⅱ  Diffraction11  Diffraction Patterns12  Thinking in Reciprocal Space13  Diffracted Beams14  Bloch Waves15  Dispersion Surfaces16  Diffraction from Crystals17  Diffraction from Small Volumes18  Indexing Diffraction Patterns19  Kikuchi Diffraction20  Obtaining CBED Patterns21  Using Convergent-Beam Techniques    Ⅲ  Imaging22  Imaging in the TEM23  Thickness and Bending Effects24  Planar Defects25  Strain Fields26  Weak-Beam Dark-Field Microscopy27  Phase-Contrast Images28  High-Resolution TEM29  Image Simulation30  Quantifying and Processing HRTEM Images31  Other Imaging Techniques    Ⅳ  Spectrometry32  X-ray Spectrometry33  The XEDS-TEM Iterface34  Qualitative X-ray Analysis35  Qualitative X-ray Microanalysis36  Spatial Resolution and Minimum Detectability37  Electron Energy-Loss Spectrometers38  The Energy-Loss Spectrum39  Microanalysis with lonization-Loss Electrons40  Everything Else in the Spectrum

编辑推荐

　　《透射电子显微学：材料科学教材》(4卷本)(影印版)作为教材很有创新性，而且把这一通用的材料表征技术的实际应用进行了必要的介绍和论述，是短时间内掌握电子显微镜的最佳学习途径，无论是电子显微镜初学者还是高级研究人员都将开卷有益。它也是亚马逊网上书店最畅销的教材之一。

图书封面

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